Scan-Free GEXRF in the Soft X-ray Range for the Investigation of Structured Nanosamples.
Staeck S, Andrle A, Hönicke P, Baumann J, Grötzsch D, Weser J, Goetzke G, Jonas A, Kayser Y, Förste F, Mantouvalou I, Viefhaus J, Soltwisch V, Stiel H, Beckhoff B, Kanngießer B.
Staeck S, et al.
Nanomaterials (Basel). 2022 Oct 26;12(21):3766. doi: 10.3390/nano12213766.
Nanomaterials (Basel). 2022.
PMID: 36364540
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